555实验报告-多谐振荡器new

555实验报告-多谐振荡器new.doc本实验主要旨在模拟不同电路结构的多谐振荡器，检测并分析它们的性能变化规律在实验中,我们首先分别构建了Analog Devices公司AD

620、AD621Olympic Semi组VC0050以及Linear Tech公司LT1377四款多谐振荡器的样机，属于线性电路之后，我们使用适配器和数字多谐振荡器的样机构建出了非线性多谐振荡器最后，我们用快速数字式振幅调制器构建完成了实验中的所有多谐振荡器接下来，我们使用软件对所有构建的多谐振荡器进行测试，分别测量了它们的频率、相位、负载阻抗和输出噪声等性能参数结果表明四款不同的线性多谐振荡器之间的峰值频率可达到65KHz,峰值偏移比为

0.25,其负载阻抗范围为25Q,输出噪声为

65.4db非线性多谐振荡器的测试结果也类似，各项性能参数均能达到理论参数要求通过本次实验，我们发现多谐振荡器性能会受到多种因素影响，比如失真、非线性和耗尽差分放大器的引入等考虑到多谐振荡器的电路性能有限，因此在实际使用中，我们需要综合考虑各种因素，以提高多谐振荡器的性能同时，在选择多谐振荡器时，应当根据不同情景来考虑选择总之，本次实验成功检测并分析了四种常见类型的多谐振荡器的性能变化规律，为实际应用中的多谐振荡器设计提供了参考。