实验六 电子探针结构原理及分析方法

实验六电子探针结构原理及分析方法

一、实验内容及实验目的结合电子探针仪实物，介绍其结构特点和工作原理，加深对电子探针的了解

1.选用合适的样品，通过实际操作演示，以了解电子探针分析方法及其应用

2.

二、电子探针的结构特点及原理电子探针射线显微分析仪简称电子探针利用约巾的细聚焦电子束，在样品表层微X m区内激发元素的特征射线，根据特征射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量X X分析电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功能电子探针的构成除了与扫描电镜结构相似的主机系统以外，还主要包括分光系统、检测系统等部分本实验这部分内容将参照教材，并结合实验室现有的电子探针，简要介绍与射线信号检测有关部分的结X构和原理

三、电子探针的分析方法电子探针有三种基本工作方式点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析、以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；面分析用于观察元素在选定微区内的浓度分布实验条件

1.样品样品表面要求平整，必须进行抛光；样品应具有良好的导电性，对于不导电的样品，1表面需喷镀一层不含分析元素的薄膜实验时要准确调整样品的高度，使样品分析表面位于分光谱仪聚焦圆的圆周上加速电压电子探针电子枪的加速电压一般为分析过程中加速电压的选择,应考23〜50kV,虑待分析元素及其谱线的类别原则上加速电压一定要大于被分析元素的临界激发电压，一般选择加速电压为分析元素临界激发电压的倍若加速电压选择过高，导致电子束在样品深2〜3度方向和侧向的扩展增加，使射线激发体积增大，空间分辨率下降同时过高的加速电压将X使背底强度增大，影响微量元素的分析精度电子束流特征射线的强度与入射电子束流成线性关系为提高射线信号强度,电子3X X探针必须使用较大的入射电子束流，特别是在分析微量元素或轻元素时，更需选择大的束流，以提高分析灵敏度在分析过程中要保持束流稳定，在定量分析同一组样品时应控制束流条件完全相同，以获取准确的分析结果分光晶体实验时应根据样品中待分析元素及射线线系等具体情况，选用合适的分光4X晶体常用的分光晶体及其检测波长的范围见有关表这些分光晶体配合使用，检测射线信X号的波长范围为波长分散谱仪的波长分辨率很高，可以将波长十分接近相差约

0.1〜U.4nm的谱线清晰地分开

0.0005nm定点分析

2.全谱定性分析驱动分光谱仪的晶体连续改变衍射角记录射线信号强度随波长的变10,X化曲线检测谱线强度峰值位置的波长，即可获得样品微区内所含元素的定性结果电子探针分析的元素范围可从镀序数到铀序数检测的最低浓度灵敏度大致为空间分492lOOppm,辨率约在微米数量级全谱定性分析往往需要花费很长时间半定量分析在分析精度要求不高的情况下，可以进行半定量计算根据是元素的特征2X射线强度与元素在样品中的浓度成正比的假设条件，忽略了原子序数效应、吸收效应和荧光效应对特征射线强度的影响实际上，只有样品是由原子序数相邻的两种元素组成的情况下，X这种线性关系才能近似成立在一般情况下，半定量分析可能存在较大的误差,因此其应用范围受到限制定量分析在此仅介绍一些有关定量分析的概念，而不涉及计算公式3样品原子对入射电子的背散射，使能激发射线信号的电子减少；此外入射电子在样品X内要受到非弹性散射，使能量逐渐损失，这两种情况均与样品的原子序数有关，这种修正称为原子序数修正由入射电子激发产生的射线，在射出样品表面的路程中与样品原子相互作用X而被吸收，使实际接收到的射线信号强度降低，这种修正称为吸收修正在样品中由入射电X子激发产生的某元素的射线，当其能量高于另一元素特征射线的临界激发能量时，将激X X发另一元素产生特征射线，结果使得两种元素的特征射线信号的强度发生变化这种由X X X射线间接地激发产生的元素特征射线称为二次射线或荧光射线,故称此修正为荧光修正XXX在定量分析计算时，对接收到的特征射线信号强度必须耍进行原子序数修正、吸收X Z修正和荧光修正这种修正方法称为修正采用修正法进行定量分析所获得的A F,ZAF ZAF结果，相对精度一般可达这在大多数情况下是足够的但是，对于轻元素、、、1%〜2%,0C N等的定量分新结果还不能令人满意，在修正计算中往往存在相当大的误差，分析时应B ZAF该引起注意线分析使入射电子束在样品表面沿选定的直线扫描，谱仪固定接收某一元素的特征射线

3.X信号，其强度在这一直线上的变化曲线，可以反映被测元素在此直线上的浓度分布，线分析法较适合于分析各类界面附近的成分分布和元素扩散实验时，首先在样品上选定的区域拍照一张背散射电子像或二次电子像，再把线分析的位置和线分析结果照在同一张底片上，也可将线分析结果照在另一张底片上，见图图6-16-la是合金的背散射电子像，被选定的直线通过胞状晶粒，图是Al-

4.0%Cuwt.%a-Al6-lb CuKaX射线信号强度在此直线上的变化曲线由图和可见，在较高的射线强度所对应的位6-la6-lb X置是富的相；在晶粒内部射线的强度较低，说明其固溶的含量较少；在Cu A12Cu a-Al XCu胞状晶粒界面内侧存在一个约宽的贫化带a-Al lOjimCu图合金的线扫描分析6-1Al-

4.0%Cu）背散射电子像）线扫描曲线a b CuKa面分析使入射电子束在样品表面选定的微区内作光栅扫描，谱仪固定接收某一元素的特征

4.射线信号，并以此调制荧光屏的亮度，可获得样品微区内被测元素的分布状态元素的面分X布图像可以清晰地显示与基体成分存在差别的第二相和夹杂物，能够定性地显示微区内某元素的偏析情况在显示元素特征射线强度的面分布图像中，较亮的区域对应于样品的位置该元X素含量较高（富集），暗的区域对应的样品位置该元素含量较低（贫化）图是与图相同的样品区域所拍照的面扫描图像图可以清晰地显示元素6-26-

16.2bCu在样品微区的分布图合金的面扫描分析6-2Al-

4.0%Cu）背散射电子像）面扫描像a bCuKa

四、实验报告要求简述电子探针的分析原理

1.为什么电子探针应使用抛光样品？

2.举例说明电子探针在材料研究中的应用

3.。